EN
เซิร์ฟเวอร์ควบคุมแบบคลาวด์
1. การคัดแยกเพื่อความบริสุทธิ์สูงพิเศษ
ตรวจจับความแตกต่างของวัสดุที่ละเอียดอ่อน เพื่อเพิ่มระดับความบริสุทธิ์และมูลค่าของพลาสติกรีไซเคิลได้อย่างมาก
2. การรู้จำแบบหลายโหมดอย่างแม่นยำ
ระบุสี รูปร่าง ขนาด และชนิดวัสดุพร้อมกัน เพื่อการคัดแยกพลาสติกที่ซับซ้อนได้อย่างถูกต้อง
3. การจัดหมวดหมู่วัสดุแบบปรับแต่งได้
อาศัยชุดข้อมูลขนาดใหญ่ในการให้โซลูชันการคัดแยกที่ออกแบบมาเฉพาะตามความต้องการของลูกค้าแต่ละราย
คำอธิบาย
เซิร์ฟเวอร์ควบคุมแบบคลาวด์: ผู้บัญชาการสายการผลิต โดยทำงานร่วมกับ S+ Analyzer และ Jiexun AI Super Agent เพื่อรับข้อมูลแบบเรียลไทม์จากเครื่องวิเคราะห์ ดำเนินการตัดสินใจอัตโนมัติ และปรับแต่งสายการผลิตทั้งระบบอย่างแม่นยำให้สอดคล้องกับมาตรฐานที่ท่านกำหนดไว้ล่วงหน้า โดยไม่จำเป็นต้องปรับแต่งด้วยตนเองซ้ำๆ ทั้งนี้ยังช่วยลดการสูญเสียเมล็ดพืชระหว่างกระบวนการแปรรูป รวมทั้งแยกสารรองที่มีมูลค่าสูงออกมาได้อย่างมีประสิทธิภาพ ทำให้บรรลุเป้าหมายในการลดการสูญเสียเมล็ดพืช ยกระดับคุณภาพ และเพิ่มประสิทธิภาพการผลิตอย่างแท้จริง
ข้อได้เปรียบ
เมื่อใช้งานร่วมกับระบบควบคุมคลาวด์ Jiexun อุปกรณ์จะวิเคราะห์ข้อมูลโดยอัตโนมัติและควบคุมการดำเนินงานของสายการผลิตทั้งระบบอย่างแม่นยำ เพื่อให้สอดคล้องกับมาตรฐานที่กำหนดเอง โดยไม่จำเป็นต้องปรับแต่งด้วยตนเองซ้ำๆ
เทคโนโลยีหลัก
โมเดลขนาดใหญ่สำหรับการคัดแยกคุณภาพโดยใช้ปัญญาประดิษฐ์แบบหลายโหมด (Multimodal AI Quality Sorting Large Model)
โมเดล AI สำหรับการคัดแยกคุณภาพแบบมัลติโมดัล ANYSORT ใช้พลังการประมวลผลอันทรงพลังเพื่อให้สามารถตั้งค่าโมเดลการคัดแยกได้รวดเร็วยิ่งขึ้น แยกแยะได้แม่นยำยิ่งขึ้น ฝึกและปรับใช้โมเดลได้เร็วขึ้น รวมทั้งวิเคราะห์ข้อมูลโดยอัตโนมัติในระดับสูง
แพลตฟอร์ม PLOV เวอร์ชัน 3.0
โครงสร้างการคัดแยกแบบกระจายสม่ำเสมออัจฉริยะได้รับการอัปเกรดอย่างสร้างสรรค์สู่เวอร์ชัน PLOV 3.0 เพื่อให้มั่นใจว่าวัสดุจะถูกกระจายอย่างสม่ำเสมอโดยไม่ทับซ้อนกันตลอดกระบวนการคัดแยกความเร็วสูงและกำลังการผลิตสูง
เทคโนโลยีกล้อง Hawkeye เวอร์ชัน 4.0
เทคโนโลยีกล้อง Hawkeye ผสานกับ AI ทำให้สามารถบันทึกภาพแบบไดนามิกความเร็วสูงได้อย่างชัดเจนยิ่งขึ้น พร้อมการระบุวัตถุที่แม่นยำและชาญฉลาดยิ่งขึ้น
เทคโนโลยีการผสานพิกเซลแบบหลายพิกเซล (MPF)
เทคโนโลยีนี้แยกแยะสารต่าง ๆ ออกจากรายการตามลักษณะเฉพาะของลายเซ็นสเปกตรัม (spectral fingerprint) ของแต่ละวัสดุ